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測量絕緣子表面污穢是為了防止絕緣子表面有導電性的污穢造成絕緣子表面擊穿放電，影響電力安全運行，測量絕緣子表面污穢的周期是根據檢修的等級和具有污穢可能性的地區。

絕緣子表面污穢包含絕緣子表面鹽密度和表面灰密度兩個參量，在需要測量絕緣子表面污穢的情況下，鹽密度和灰密度兩個參量都需要測量。

什么是灰密度？

灰密度又稱為非可溶沉積物密度，符號是NSDD，是指單位面積內附著在絕緣子表面不能溶解于水的物質，比如顆粒物，測量絕緣子表面的灰密度是采用絕緣子灰密度測試測量。

什么是鹽密度？

鹽密度（Equivalent Salt Deposit Density）是指在絕緣子表面單位面積中NaCI的含量，測量鹽密度是采用絕緣子鹽密度測試儀測量。

絕緣子表面污穢測量方法

測量絕緣子表面污穢度的方法分兩步測量，鹽密度的測量方法如下：

先用專用取樣試紙在絕緣子帶電絕緣子串取上數第二片、中間一片、下數第二片三片絕緣子表面的污穢，非帶電絕緣子串取任意位置的三片絕緣子的污穢，將污穢連同試紙一起放入去離子水或者無鹽化學水中充分攪拌，隨后取出試紙，將鹽密度專用傳感器放入溶液的中心位置，在測試儀的顯示界面讀取鹽密度即可。

測量鹽密度的表面積與用水量的配置關系

測量表面污穢鹽密度時，用水量應該按照以下方式配置，如果配置不正確會導致鹽密度偏高或者偏低，具體配置如下：

污穢面積≤1500cm2時，用水量為300mL；
污穢面積≥1500~2000cm2時，用水量為400mL；
污穢面積≥2000~2500cm2時，用水量為500mL；
污穢面積≥2500~3000 cm2時，用水量為600mL；