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中試控股技術研究院魯工為您講解：63kV～500kV變壓器繞組變形測試儀（源頭大廠）

ZSBR-8500變壓器繞組變形測試儀

雙通道16位AD采樣,8寸彩色觸摸屏，亮度可調,USB2.0接口,支持數據上傳和聯機測試
先進的DDS掃頻技術
參考標準：DL/T 911-2016

變壓器繞組變形測試儀：變壓器設計制造完成后，其內部結構和各項參數基本保持不變，因此每個線圈的頻域響應也隨之確定，正常繞組的變壓器，其三相頻域響應曲線耦合程度基本一致；
當變壓器在試驗過程中出現匝間、相間短路，在運行中出現短路或其他故障因電磁拉力造成線圈移位，在運輸過程中發送碰撞造成線圈相對移位，這些因素都會使變壓器分布參數發生變化，其頻域響應也發生變化，根據頻域響應曲線即可判斷變壓器的變形程度；

1.變壓器設計制造完成后，其內部結構和各項參數基本保持不變，因此每個線圈的頻域響應也隨之確定，正常繞組的變壓器，其三相頻域響應曲線耦合程度基本一致；
2.當變壓器在試驗過程中出現匝間、相間短路，在運行中出現短路或其他故障因電磁拉力造成線圈移位，在運輸過程中發送碰撞造成線圈相對移位，這些因素都會使變壓器分布參數發生變化，其頻域響應也發生變化，根據頻域響應曲線即可判斷變壓器的變形程度；
3.基于以上思想和先進的測量技術，本設計了變壓器繞組變形測試儀，該儀器能準確繪制各相頻域響應曲線，通過測量曲線的橫向、縱向對比，可以準確的判斷變壓器的變形程度。
4.本儀器符合DL/T911 2004《電力變壓器繞組變形的頻率響應分析法》標準。

當變壓器遭受短路電流沖擊或其他沖擊后，變形有以下幾種：
①繞組整體變形，是由于運輸過程中，受到沖擊、傾斜、振動等外力影響，造成繞組位移。這種變形繞組尺寸不變，只是對鐵芯的相對位移變化。繞組的電感量、餅間電容量不變，對地電容量變化。一般電容量減小。

在等值電路中，諧振峰點向高頻方向平移。所以，這種變形后所測頻譜圖中，和以前比較，各諧振點都仍然存在，不發生變化，只是峰值均向高頻方向平移(向右)。
②中試控股詳細講解餅間局部變形，在短路電磁力作用下使部分固定不牢線餅被擠壓，另外一些線餅拉長，這樣餅間電容被改變。這種變形的后果使等值電路圖中一些電感變大，一些變小；

與電感并聯的餅間電容也隨之改變。測量頻譜圖時，部分諧振峰點向高頻方向移動，而且峰值下降；部分諧振點向低頻方向移動，峰點升高。通過諧振峰值變化情況，判斷餅間變形面積和變形程度。
③匝間短路，從理論上講繞組發生匝間短路后，電感值下降，頻譜曲線發生明顯變化，幅值上升，一些諧振點峰值消失。

但理論是這樣的，實際上難以捕捉到這種情況。一旦運行中發生匝間短路，線匝將被燒斷，重瓦斯跳閘，壓力釋放閥動作，這時變壓器油色譜分析也會不合格，變壓器將吊罩檢查的。
④引線位移變形，由于引線長度較大，固定不牢時，運行中產生位移變形。當引線位移時，等值電路中表現為兩端口電容變化。

當信號入口端引線位移但引線電容與其他電路并聯之，所以它的變化不會對頻譜曲線有明顯變化；而輸出端引線位移，引線電容變化后對頻響曲線有明顯變化，尤其是曲線中300kHz～1MHz范圍內。所以，在實際測試中，采用中性點注入信號源，以防上述的影響。

如果引線對地電容減小，頻段內幅值上升，反之，則下降；引線對地電容變大，預示著引線向外殼方向移動，引線對地電容變小，則表示引線向繞組方向移動。
⑤中試控股詳細講解繞組輻向變形，當繞組受輻向力作用時，使內繞組向內收縮，直徑變小，電感量變小。這時內外繞組間距離變大，其電容變小，將使頻譜圖中的諧振峰點向高頻方向移動，且幅值有所增大。

⑥繞組軸向扭曲變形，當變壓器繞組間隙較大或有部分撐條移位，在電磁力作用下，使繞組在軸向被扭曲為S狀。這時部分餅問電容和對地電容減小。測量的頻譜圖上，有部分諧振峰向高頻方向移動，在低頻段諧振峰幅值下降，中頻段峰值略有上升，高頻段不變。
ZSBR-8500變壓器繞組變形測試儀技術指標
1. 設置6種不同的掃描方式：
線性 1K-1000kHz_1.0步進1kHz    1000點
線性 1K-1000kHz_0.5步進0.5kHz   2000點
線性 1K-2000kHz_1.0步進1kHz    2000點
線性 1K-2000kHz_0.5步進0.5kHz   4000點
分段100HZ - 1000kHz             1440點
分段100HZ - 2000kHz            2440點
2. 測量范圍：(-100dB） - （+20dB）
3. 測量精度：0.1dB；
4. 掃描頻率精度：0.01%；
5. 信號輸入阻抗：1MΩ；
6. 信號輸出阻抗：50Ω；
7. 同相測試重復率：99.9%

產品簡介
1. 采用先進的DDS掃頻技術;
2.采用雙電源供電:市電AC220V士10%，內電源6V5AH蓄電池;
3. 采用高速，高集成化微處理器設計;
4.輸出正弦波幅值可通過軟件設置;
5.雙通道16位AD采樣;
6. 8寸彩色觸摸屏，亮度可調;
7. 多可以保存120組測量數據，供隨時查閱或上傳至PC機;
8. 有強大的.上位機軟件,曲線分析、打印和生成word文檔;
9.USB2、0接口，支持數據.上傳和聯機測試;

ZSBR-8500變壓器繞組變形測試儀采用先進的DDS掃頻技術;

ZSBR-8500變壓器繞組變形測試儀采用雙電源供電:市電AC220V士10%，內電源6V5AH蓄電池;

1、不帶分接開關的繞組直流電阻試驗。

不帶分接開關的繞組導電回路主要由繞組、引線和出線接線端子構成。繞組和引線之間一般采用接線板對接，螺栓緊固的方式進行連接，導電接觸面大，連接方式可靠。

一旦出現 某一相的低壓繞組異常，檢修人員應首先檢查接線端子是否松動或開裂。如果接線端子正常， 那么很有可能是繞組和引線連接板接觸不良，必要時撤油至低壓接線手孔，打開手孔蓋板， 檢查繞組和引線的連接情況。

2、帶分接開關的高壓繞組直流電阻試驗。

這種情況下，構成導電回路的結構元件比較復雜，包含繞組、引線、分接開關、管導電密封頭、接線端子等，其中，分接開關和套管導電密封頭的結構最為復雜，也經常出現接 觸不良，導致繞組的直流電阻數值超標。

當發生繞組直流電阻異常缺陷時，通常會出現以下 8 類缺陷特征，每類缺陷特征分別對應著一個或多個成因。

1、套管的導電密封頭接觸不良。這種情況下，缺陷現象應該具有如下特征

(1)在所有分接位置上，某相繞組的直流電阻數值都明顯偏大;

(2)套管的導電密封頭結構比較復雜，容易出現接觸不良的情況。

2、零點套管的導電密封頭接觸不良。這種情況下，缺陷現象應該具有如下特征

(1)在所有分接位置上，三相繞組的直流電阻數值都明顯偏大;

(2)零點套管的導電密封頭結構比較復雜，容易出現接觸不良的情況。

3、切換開關結構原因造成直流電阻異常缺陷現象應該具有如下特征

(1)直阻測試數據不穩定，級差沒有規律。

(2)切換開關的結構較為復雜，但經常出現問題的部分主要是觸頭組和面板，觸頭組的電氣連接部分和觸頭組與面板的接觸部分容易出現接觸不良，導致接觸電阻或直流電阻超標。

4、切換開關單數觸或雙數觸頭接觸不良，導致直阻異常。這種情況下，缺陷現象應該具有如下特征：

(1) 在奇數分接位置(或偶數分接位置)上繞組的直流電阻數值整體偏大，然而在偶 數分接位置(或奇數分接位置)上數值正常;

5、選擇開關觸頭接觸不良造成的直流電阻異常，選擇開關主要涉及引線與開關的連接問題、開關動觸和定觸頭的接觸問題，這兩個問 題容易引起接觸不良、直流電阻超標。這種情況下，缺陷現象應該具有如下特征：

(1)在某一個固定的分接位置上，繞組直阻偏大，在其他位置上，數值合格;

(2)如果是正反調壓方式，上下半區對應的分接位置出現同時偏大的現象。

6、極性開關接觸不良導致的直流電阻異常。這種情況下，缺陷現象應該具有如下特征：

(1)正反調壓的有載開關,上半區和下半區直阻數據相比某半區直阻整體偏大，級差比較穩定;

(2)粗細調壓的有載開關，中試控股在整定位置與上下相鄰位置級差變化較大，與歷史數據相比整體偏大;

7、引線和繞組的異常情況導致的直阻異常 這種情況下，缺陷現象應該具有如下特征：

(1)某相繞組整體偏大，且級差均勻;

(2)該相套管結構經檢查緊固到位且接觸良好，直接將測試線接在引線頭上測量， 直阻仍然偏大，且級差均勻;

(3)用手晃動引線，再進行測試，繞組直流電阻數據可能發生明顯變化;

8、無載分接開關接觸不良導致的直阻異常 這種情況下，缺陷現象應該具有如下特征：

(1) 導電回路中包含無載分接開關;

(2) 某相繞組直流電阻偏大;

(3) 無載分接開關位置指示顯示位置不正;

中試控股詳細講解按《預規》要求，顯極式大修時（和更換繞組后）要進行交流耐壓試驗，原因是這種轉子絕緣被擊穿后較容易修理。而對隱極式轉子只在局部修理槽內絕緣及局部更換繞組并修好后才做此項試驗。

某電廠一臺200MW發電機（水氫氫冷卻方式）其勵磁電壓為455V，由絕緣電阻及交流阻抗及損耗試驗得判定該機轉子繞組接地點在負極側，接地性質為動態高阻抗接地，但未發現有匝間短路。因此，技術員當即決定進行交流耐壓試驗，來尋找故障點。