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中試控股技術(shù)研究院魯工為您講解:四通道異頻介損自動測量裝置
ZSDX-8000高壓介質(zhì)損耗測試裝置(CVT變比)
操作簡單,儀器配備了高端的全觸摸液晶顯示屏,超大全觸摸操作界面,每過程都非常清晰明了,操作人員不需要額外的專業(yè)培訓就能使用。輕
輕點擊一下就能完成整個過程的測量,是目前非常理想的智能型介損測量設備。
參考標準:DL/T 962-2005,DL/T 474.3-2018
高壓介質(zhì)損耗測試裝置(CVT變比):ZSDX-8000高壓介質(zhì)損耗測試裝置是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場或?qū)嶒炇覝y試各種高壓電力設備介損正切值及電容量的高精度測試儀器。儀器為一體化
結(jié)構(gòu),內(nèi)置介損測試電橋,可變頻調(diào)壓電源,升壓變壓器和SF6 高穩(wěn)定度標準電容器。測試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生,經(jīng)變壓器升壓后用
于被試品測試。頻率可變?yōu)?0.0Hz、47.5Hz\52.5Hz、45.0Hz\55.0Hz、60.0Hz、57.5Hz\62.5Hz、55.0Hz\65.0Hz,采用數(shù)字陷波技術(shù),避開了工
頻電場對測試的干擾,從根本上解決了強電場干擾下準確測量的難題。同時適用于全部停電后用發(fā)電機供電檢測的場合。該儀器配以絕緣油杯加溫控裝置可測試絕緣油介質(zhì)損耗。
技術(shù)參數(shù)
1 使用條件 -15℃∽40℃ RH<80%
2 抗干擾原理 變頻法
3 電 源 AC 220V±10% 允許發(fā)電機
4 高壓輸出 0.5KV∽10KV 每隔0.1kV
精 度 2%
最大電流 200mA
容 量 2000VA
5 自激電源 AC 0V∽50V/15A 單 頻 50.0HZ、60.0HZ
自動雙變頻
45.0HZ/55.0HZ 47.5HZ/52.5HZ
55.0HZ/65.0HZ 57.5HZ/62.5HZ
6 分 辨 率 tgδ: 0.001% Cx: 0.001pF
7 精 度 △tgδ:±(讀數(shù)*1.0%+0.040%)
△C x :±(讀數(shù)*1.0%+1.00PF)
8 測量范圍 tgδ 無限制
C x 15pF < Cx < 300nF
10KV Cx < 60 nF
5KV Cx < 150 nF
1KV Cx < 300 nF
CVT測試 Cx < 300 nF
9 LCR測量范圍 電感L>20H(2kV) 電阻R>10KΩ(2kV)
LCR測量精度 1% 角度分辨率 0.01
10 CVT變比范圍 10∽10000
CVT變比精度 1% CVT變比分辨率 0.01
11 外型尺寸(主機(mm) 350(L)×270(W)×315(H)
外型尺寸(附件)(mm) 350(L)×270(W)×160(H)
12 存儲器大小 200 組 支持U盤數(shù)據(jù)存儲
13 重量(主機) 22.75Kg
重量(附件箱) 5.25Kg
參考接線
1、正接法
(1)、內(nèi)高壓—內(nèi)標準—正接法(常規(guī)接線)
(2)、外高壓—內(nèi)標準—正接法(外接高壓輸入小于12kV)
(3)、內(nèi)高壓—外標準—正接法(必須設置外接標準容量)
(4)、外高壓—外標準—正接法(必須設置外標準容量)
2、反接法
(1)、內(nèi)高壓—內(nèi)標準—反接法(常規(guī)接線)
(2)、外高壓—內(nèi)標準—反接法(外接高壓輸入小于12kV
(3)、內(nèi)高壓—外標準—反接法(必須設置外標準容量)
(4)、外高壓—外標準—反接法(必須設置外標準容量)
3、CVT測試
(1)、CVT分別測試(普通測試)
(2)、CVT同時測試(一次完成測試)
(3)、不拆高壓引線測試CVT電容值和介損測量模式:CVT自激法。電壓≤2kV
(4)、反接屏蔽法測量CVT上端C0的電容值和介損測量模式:反接法。電壓≤2kV
4、CVT變比測試
5、正反同測
(1)、兩繞組變壓器CHG+CHL測試接線
(2)、兩繞組變壓器CLG+CLH測試接線
(3)、三繞組變壓器CHG+CHL測試接線(高壓線屏蔽接T繞組)
(4)、三繞組變壓器CLG+CLT測試接線(高壓線屏蔽接HV繞組)
(5)、三繞組變壓器CTG+CHT測試接線(高壓線屏蔽接LV繞組)
?正接法
1.HV用紅色高壓線連試品高壓
2.Cx用黑色測試線連試品低壓
3.黑色測試線的屏蔽層連試品E
?反接法
1.試品高壓接地
2. HV用紅色高壓線連試品低壓
3.紅色高壓線的屏蔽層連試品E
4.Cx懸空
5.桶體已為高壓注意絕緣
中試控股電力講解測量介質(zhì)損耗角正切值tg 有何意義?
介質(zhì)損耗角正切值又稱介質(zhì)損耗因數(shù)或簡稱介損。測量介質(zhì)損耗因數(shù)是一項靈敏度很高的試驗項目,它可以發(fā)現(xiàn)電力設備絕緣整體受潮、劣化變質(zhì)以及小體積被試設備貫通和未貫通的局部缺陷。例如:某臺變壓器的套管,正常tg 值為0.5%,而當受潮后tg 值為3.5%,兩個數(shù)據(jù)相差7倍;
而用測量絕緣電阻檢測,受潮前后的數(shù)值相差不大。由于測量介質(zhì)損耗因數(shù)對反映上述缺陷具有較高的靈敏度,所以在電工制造及電力設備交接和預防性試驗中都得到了廣泛的應用。中試控股電力講解變壓器、發(fā)電機、斷路器等電氣設備的介損測試《規(guī)程》都作了規(guī)定。
U盤導出,可在任意一臺PC機上通過我公司專用軟件,查看和管理數(shù)據(jù)
不拆除CVT高壓引線的情況下正確測量CVT的介質(zhì)損耗值和電容值
自激電源:AC 0V∽50V/15A 45HZ/55HZ 55HZ/65HZ 47.5HZ/52.5HZ 自動雙變頻
測量tgδ實際上就是測量流過試品容性電流與全電流的相角差,在試驗時同時測量流過標準電容器電流(其相角與流過試品的容性電流的相角一致)和流過試品的電流(全電流),這樣可測得到二者之間的相角差,從而可以計算tgδ的數(shù)值。采樣電阻是無感精密電阻。測量回路將電流信號變?yōu)閿?shù)字信號,通過傅立葉變換能精確穩(wěn)定地測量畸變波形的相位差。但測量精度完全由高速高精度器件和計算處理的精度決定。考慮到正、反接線及高低壓隔離問題,數(shù)據(jù)傳輸可以通過光纖傳輸或?qū)?shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為紅外光并發(fā)送到接收器來進行隔離。
電力導讀:變頻介質(zhì)損耗測試儀數(shù)據(jù)不合理?請不要忽略這些因素!變頻介質(zhì)損耗測試儀(簡稱:介損測試儀)采用變頻電源技術(shù),利用單片機和電子技術(shù)進行自動頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運算,達到抗干擾能力強、測試速度快、精度高、操作簡便的功能。變頻電源采用大功率開關(guān)電源,輸出45Hz和55Hz純正弦波,自動加壓,可提供最高10kV的電壓;自動濾除50Hz干擾,適用于變電站等電磁干擾大的現(xiàn)場測試。介損絕緣試驗可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì),以及局部缺陷等,在電工制造、電氣設備安裝、交接和預防性試驗中都廣泛應用。
如果變頻介質(zhì)損耗測試儀在使用中出現(xiàn)測試數(shù)據(jù)明顯不合理,請從以下方面查找原因:
1搭鉤接觸不良
現(xiàn)場測量使用搭鉤連接試品時,搭鉤務必與試品接觸良好,否則接觸點放電會引起數(shù)據(jù)嚴重波動!尤其是引流線氧化層太厚,或風吹線擺動,易造成接觸不良。
2接地接觸不良
接地不良會引起儀器保護或數(shù)據(jù)嚴重波動。應刮凈接地點上的油漆和銹蝕,務必保證0電阻接地!
3直接測量CVT或末端屏蔽法測量電磁式PT
直接測量CVT的下節(jié)耦合電容會出現(xiàn)負介損,應改用自激法。
用末端屏蔽法測量電磁式PT時,由于受潮引起“T形網(wǎng)絡干擾”出現(xiàn)負介損,吹干下面三裙瓷套和接線端子盤即可。也可改用常規(guī)法或末端加壓法測量。
4空氣濕度過大
空氣濕度大使介損測量值異常增大(或減小甚至為負)且不穩(wěn)定,必要時可加屏蔽環(huán)。因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場分布,此法有爭議,可參照有關(guān)規(guī)程。
5發(fā)電機供電
發(fā)電機供電時輸入頻率不穩(wěn)定,可采用定頻50Hz模式工作。
6測試線
由于長期使用,易造成測試線隱性斷路,或芯線和屏蔽短路,或插頭接觸不良,用戶應經(jīng)常維護測試線;
測試標準電容試品時,應使用全屏蔽插頭連接,以消除附加雜散電容影響,否則不能反映出儀器精度;
自激法測量CVT時,非專用的高壓線應吊起懸空,否則對地附加雜散電容和介損會引起測量誤差。
7工作模式選擇
接好線后請選擇正確的測量工作模式(正、反和CVT),不可選錯。特別是干擾環(huán)境下應選用變頻抗干擾模式。
8試驗方法影響
由于介損測量受試驗方法影響較大,應區(qū)分是試驗方法誤差還是儀器誤差。出現(xiàn)問題時可首先檢查接線,然后檢查是否為儀器故障。
9儀器故障
用萬用表測量一下測試線是否斷路,或芯線和屏蔽是否短路;輸入電源220V過高或過低;接地是否良好。
用正、反接線測一下標準電容器或已知容量和介損的電容試品,如果結(jié)果正確,即可判斷儀器沒有問題;
拔下所有測試導線,進行空試升壓,若不能正常工作,儀器可能有故障。
啟動CVT測量后測量低壓輸出,應出現(xiàn)2~5V電壓,否則儀器有故障。
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